日本Riken Keiki高輸出光學(xué)系統(tǒng)高精度測量

日本Riken Keiki高輸出光學(xué)系統(tǒng)高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 特點(diǎn)介紹

配備超過2μW的高光輸出光學(xué)系統(tǒng)

配備可測量2eV以上的低能量照射光學(xué)系統(tǒng)

高溫測量可達(dá)100℃

膜厚測量

以 0.01eV 步長進(jìn)行精確測量

配備高要求的多點(diǎn)測量和重復(fù)測量功能。

讀取AC-2、3、5數(shù)據(jù)后即可進(jìn)行分析

采用平板式開放式計(jì)數(shù)器，可進(jìn)行高達(dá) 4000 cps 的光電子計(jì)數(shù)

日本Riken Keiki高輸出光學(xué)系統(tǒng)高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 規(guī)格參數(shù)

電池材料電子性能測量

測量催化材料的電子特性

有機(jī)EL和復(fù)制感光材料的電離勢測量

硬盤和磁帶摩擦學(xué)研究

半導(dǎo)體和引線框架表面氧化態(tài)的測量

精密電子材料中分子級(jí)薄膜污染檢測

測量以下功能材料的電離勢：

有機(jī)EL、有機(jī)太陽能電池、有機(jī)晶體管、復(fù)制感光材料、鈣鈦礦太陽能電池、量子點(diǎn)、碳納米材料、催化劑材料、蓄電池、燃料電池、半導(dǎo)體材料（Si、GaN、 GaAs等）、透明導(dǎo)電膜（ITO、FTO等）

面積 50 x 50 mm 或更小，厚度 10 mm 或更小

溫度和濕度范圍 溫度范圍：15～35℃（無突變）、60%RH以下（無凝露）、露點(diǎn)-30℃以上

電源 主機(jī)：AC100 V-240 V50/60 Hz5 A（最大）

LDLS（交流適配器）：AC100 V-240 V50-60 Hz 2.5 A

LDLS（主機(jī)）：DC12 V 120 W

溫度控制器：AC100 V（±10%） ) 50/60 Hz 1 A（最大） )

（不包括控制 PC）

外部尺寸 LC（光源部分）*：約 623（寬）x 450（深）x 317（高）毫米

DC（測量部分）：約 465（寬）x 450（深）x 360（高）

毫米：約 200(W)×150(D)×280(H) mm

*LC（光源）中包含 LDLS 電源。

重量 AC-2S LC（光源部分）：約 30 kg，AC-2S DC（測量部分）：約 31 kg

溫度控制器：約 5 kg（不包括控制 PC）