PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類(lèi)TECHNICAL ARTICLES
相關(guān)文章產(chǎn)品展示/ Product display
日本napson非接觸渦流法電阻率測(cè)試儀手動(dòng)式 EC-80非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x
聯(lián)系電話:13823182047
日本napson非接觸渦流法電阻率測(cè)試儀手動(dòng)式 EC-80 特點(diǎn)介紹
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x
一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。
在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測(cè)量條件
測(cè)量目標(biāo)
半導(dǎo)體能電池材料相關(guān)(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)
化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
日本napson非接觸渦流法電阻率測(cè)試儀手動(dòng)式 EC-80 規(guī)格參數(shù)
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x
一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。
在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測(cè)量條件
測(cè)量目標(biāo)
半導(dǎo)體能電池材料相關(guān)(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)
化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x
一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。
在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換
郵箱:akiyama_zhou@163.com
傳真:
地址:廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號(hào)和健云谷2棟10層1002