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產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本napson手動測量電阻測試儀半導體制造用 RT-70V系列四探針法電阻率和方塊電阻手動測量裝置
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日本napson手動測量電阻測試儀半導體制造用 RT-70V系列 特點介紹
四探針法電阻率和方塊電阻手動測量裝置
測量測試儀(RT-70V)和測量臺的組合
<測量測試儀:RT-70V>
通過 JOG 旋鈕、厚度、溫度和 PN 輸入輕松操作(RT-70V 測試儀)
自檢功能、自動測量范圍切換、4 種測量模式
包括厚度和溫度校正功能 ( (對于硅)
測量目標
半導體能電池材料相關(guān)(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)
擴散樣品
日本napson手動測量電阻測試儀半導體制造用 RT-70V系列 規(guī)格參數(shù)
測量范圍
[電阻率(電阻率)] 1μ ~ 300kΩ?cm
[表面電阻] 5m ~ 10MΩ/sq
[電阻率(電阻率)] 1μ~300kΩ?cm
[表面電阻] 5m~10MΩ/sq
產(chǎn)品尺寸
RT-70V:W250×D330×H130mm
約7kg
四探針法電阻率和方塊電阻手動測量裝置
測量測試儀(RT-70V)和測量臺的組合
<測量測試儀:RT-70V>
通過 JOG 旋鈕、厚度、溫度和 PN 輸入輕松操作(RT-70V 測試儀)
自檢功能、自動測量范圍切換、4 種測量模式
郵箱:akiyama_zhou@163.com
傳真:
地址:廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號和健云谷2棟10層1002