日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器

日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 特點介紹

該設(shè)備非常適合評估和檢查智能手機和其他設(shè)備中安裝的具有鏡頭移位圖像穩(wěn)定 (OIS) 的相機模塊執(zhí)行器。

通過使用專用目標(biāo)，可以高精度、高速地同時測量五個項目：目標(biāo)物體的傾斜（θX、θY）、位移（Z）和位置（X、Y）。

除了使用激光進行自準(zhǔn)直儀角度測量之外，還可以同時測量位移（X、Y、Z）和旋轉(zhuǎn)角度的測量儀器。

隆重推出可實時捕捉一切的創(chuàng)新產(chǎn)品。這些創(chuàng)新產(chǎn)品將您的測量概念提升到一個新的水平。

此外，我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。

日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 規(guī)格參數(shù)

MF-5550-0002

主要規(guī)格

測量范圍

傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）

位移 (Z)：±1mm

位置 (XY)：±0.5mm

工作距離：80±0.5mm

輸出更新率：10,000次/秒

MF-5570-0002

測量范圍

傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）

位移 (Z)：±1mm

位置 (XY)：±0.7mm

工作距離：80±0.5mm

輸出更新率：10,000次/秒