日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度

日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度 MOA-8000系列 特點介紹

■特點

1. 非接觸式、無損測量

2. 可測量透明和不透明材料

3. 全自動、高精度

4. 可測量復(fù)介電常數(shù)（介電常數(shù)、介質(zhì)損耗因數(shù)）

日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度 MOA-8000系列 規(guī)格參數(shù)

■測量對象

1. 薄膜、片材

2. 紙、無紡布、預(yù)浸料

3. 泡沫片材

4. 陶瓷

5. 橡膠片材

6. 纖維增強復(fù)合材料

7. 液晶聚合物（LCP）

■用途

1. 拉伸薄膜的各向異性測量（彎曲現(xiàn)象分析）

2. 液晶聚合物的取向評價

3. 電子相關(guān)材料的復(fù)合介電常數(shù)測量等　　■

產(chǎn)品陣容

< MOA-8004 >

◆測量頻段... 4GHz

◆ 測量面積...Φ65mm

◆樣品尺寸...□95mm <t3mm

◆測量項目

取向圖案測量：取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n

介電常數(shù)圖案測量：取向角、ε'、ε"

共振曲線測量：共振曲線、Q值

< MOA-8015 >

◆測量頻段... 12GHz / 15GHz / 17GHz

◆測量面積... Φ18mm

◆樣品尺寸... □35mm <t1.5mm

◆測量項目

方向圖測量：取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n

介電常數(shù)圖案測量：取向角、ε'、ε"

共振曲線測量：共振曲線、Q 值